trcd(RAS至CAS延迟)是内存参数之一,表示从RAS(行地址选通)到CAS(列地址选通)的延迟时间。
TRCD,完整名称为RAS to CAS Delay,是指内存行地址传输到列地址的延迟时间,也被称为RAS Latency,它是内存时序中的一个关键参数,影响着内存的性能和稳定性,下面是对TRCD以及相关内存术语的详细解释:
1. 内存时序概述
内存时序是描述同步动态随机存取内存(DRAM)操作的一系列时间参数,它们确定了内存在执行读写操作时各信号间的时间关系。
2. TRCD(RAS to CAS Delay)
– 定义:TRCD定义了内存控制器发出“ACT”指令激活某个Bank中的某一行地址所需要的时间,在完成TRCD后,内存才会接着发送列地址以及读写指令,进行读写操作。
– 作用:TRCD可以视为是找门和开门的环节,在对内存Cell进行读写之前必须先激活对应的行地址。
3. 相关内存术语
– tCL(CAS Latency):内存CAS延迟时间,指内存发出读命令到数据就绪所需的周期数。
– tRP(Row Precharge Time):行地址预充电时间,指在同一个Bank中,前一个行地址操作完成后,对下一个行地址进行预充电准备的时间。
– tRAS(Active to Precharge Delay):从操作开始到寻址结束需要的总时间周期,即对某行的数据进行存储时所需的时间。
4. 影响因素
– 频率:TRCD值对内存最大频率有较大影响,要使内存条运行在更高的频率,可能需要调整TRCD值。
– 超频:较大的TRCD值意味着内存条可能有更高的超频潜力。
5. 内存功能
内存作为计算机系统中硬盘数据和CPU数据交换的中转站,属于临时存储器,由于内存上的电容会缓慢放电,断电后会导致内存中数据丢失,因此它不同于硬盘这类长期存储设备。
术语 | 全称 | 中文释义 | 对性能的影响 |
tCL | CAS Latency | 列地址选通延迟 | 较低的值通常意味着更快的响应时间 |
tRCD | RAS to CAS Delay | 行地址到列地址延迟 | 影响内存寻址速度 |
tRP | Row Precharge Time | 行地址预充电时间 | 影响连续访问同一Bank时的响应时间 |
tRAS | Active to Precharge Delay | 激活到预充电延迟 | 影响内存刷新和数据保持的时间 |
TRCD是内存时序中一个重要的参数,它与其他几个时序参数一起决定了内存的操作速度和稳定性,理解并适当调节这些时序参数对于优化内存性能至关重要。
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